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Balayage Electron Microscope (Meb) Compatible With The Domain Of Microelectronics And To Be Installed In An Iso6 White Room Environment

País:  Francia

Tipo: Solicitud de ofertas

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Publicado
2 de May, 2025
System Of Scanning Electron Microscope With Focused Ionic Bundle For Sampling For Tomography Atomography

País:  República Checa

Tipo: Solicitud de ofertas

Organismos de Financiación :   Unión Europea

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Publicado
2 de May, 2025
Acquisition Of Direct Electron Detection Cameras For Installation On The Titan Themis Electron Microscope Of The Cisit Building From The University Of Lille

País:  Francia

Tipo: Adjudicación de Contrato

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Publicado
2 de May, 2025
Procurement of Scanning Electron Microscope (SEM) for Laboratory Division.

País:  Bangladesh

Tipo: Solicitud de ofertas

Publicado
1 de May, 2025
3D Lit-Obirch System (Imws-2.1) +Scanning Electron Microscope With Ultrafast E-Beam Operation (Imws-3.1 ) - Pr876527-2690-P

País:  Alemania

Tipo: Solicitud de ofertas

Organismos de Financiación :   Unión Europea

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Publicado
30 de Abr, 2025
Delivery Of High -Resistant Scanning Electron Microscope With An Eds Chemical Composition Analysis Detector

País:  Polonia

Tipo: Solicitud de ofertas

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Publicado
30 de Abr, 2025
Szp/242-090/2025 Delivery Of High -Resolution Of A Scanning Electron Microscope Dedicated To 3D Imaging - 1 Item For The Center For Materials Engineering And Plastic Machining. "

País:  Polonia

Tipo: Solicitud de ofertas

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Publicado
30 de Abr, 2025
Supply And Delivery Of Pharmaceutical Research Equipment For Armauer Hansen Research Institute (Ahri), Addis Ababa, Ethiopia

País:  Etiopía

Tipo: Solicitud de ofertas

Organismos de Financiación :   United Nations Office for Project Service (UNOPS)

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Publicado
30 de Abr, 2025
Invitation For Expression Of Interest For Eswatini

País:  Estados Unidos

Tipo: Solicitud de ofertas

Organismos de Financiación :   Food and Agriculture Organization (FAO)

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Publicado
30 de Abr, 2025
Cap I & D No. 53 Aac Ciceco 02 24 - Acquisition Of 1 (One) Electronic Bench Microscope (Without) With Eds (Energy Dispersive Spectroscopy), For The Associated Ciceco - Insti ...

País:  Portugal

Tipo: Adjudicación de Contrato

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Publicado
29 de Abr, 2025
Raith Electron-Beam Lithography Hardware And Software Upgrade

País:  Irlanda

Tipo: Adjudicación de Contrato

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Publicado
29 de Abr, 2025
Ads For Formalization Of Contracts Of: Presidency Of The State Agency Higher Council For Scientific Research, M.P. Object: Supply And Installation Of An Electronic Field Broadcasting Microscope With X -Ray Detector, Aimed At The Barcelona Microelectronics Institute Of The State Agency Higher Council For Scientific Research. File: 33126/25.

País:  España

Tipo: Adjudicación de Contrato

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Publicado
29 de Abr, 2025
Zakupa Laboratory And Medtskogo Oborudovania Purchase Of Medical And Laboratory Equipment

País:  Tayikistán

Tipo: Solicitud de ofertas

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Publicado
29 de Abr, 2025
Supply Of An Electronic Microscope In Scanning

País:  Francia

Tipo: Solicitud de ofertas

Organismos de Financiación :   Unión Europea

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Publicado
29 de Abr, 2025
Notice Of Market Investigation To Verify Uniqueness Supplier Pursuant To Art. 76 C. 2 Lett. B) Of Legislative Decree No. 36/2023 - Supply Of An Electronic Microscope With Sem Scan

País:  Italia

Tipo: Procurement Plan

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Publicado
29 de Abr, 2025
Precise Ion Beam Based Trenching Tool (Imws-03.2) + High Performance Ga-Fib Sample Preparation (Imws-08.1) + High Performance Analyical Sem Inspection (Imws-08.2) - Pr924050-2690-P

País:  Alemania

Tipo: Solicitud de ofertas

Organismos de Financiación :   Unión Europea

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Publicado
28 de Abr, 2025
3D Lit-Obirch System (Imws-2.1) +Scanning Electron Microscope With Ultrafast E-Beam Operation (Imws-3.1 ) - Pr876527-2690-P

País:  Alemania

Tipo: Solicitud de ofertas

Organismos de Financiación :   Unión Europea

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Publicado
28 de Abr, 2025
Itq For Supply, Delivery, Installation, Testing And Commissioning Of One (1) Unit Of Semi-Motorized Fluorescence Inverted Microscope For The Department Of Chemical And Biomolecular Engineering

País:  Singapur

Tipo: Solicitud de ofertas

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Publicado
28 de Abr, 2025
Precise Ion Beam Based Trenching Tool (Imws-03.2) + High Performance Ga-Fib Sample Preparation (Imws-08.1) + High Performance Analyical Sem Inspection (Imws-08.2) (Pr924050-2690-P)

País:  Alemania

Tipo: Solicitud de ofertas

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Publicado
27 de Abr, 2025
3D Lit-Obirch System (Imws-2.1) +Scanning Electron Microscope With Ultrafast E-Beam Operation (Imws-3.1 ) (Pr876527-2690-P)

País:  Alemania

Tipo: Solicitud de ofertas

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Publicado
27 de Abr, 2025